据新书8月13日报道,据新书8月13日报道,“复旦大学微电子学院”官微发文,从界面工程出发,周鹏-刘春森团队首次实现了世界上最大规模1KB纳秒超快闪存阵列的集成验证,并证明其超快特性可延伸至亚10纳米。
据介绍,人工智能的快速发展迫切需要高速非易失存储技术。目前主流非易失闪存的编程速度一般为100微秒,无法支撑应用需求。
在早期阶段,研究小组发现二维半导体结构可以提高其速度超过1000倍,实现颠覆性的纳秒超快存储闪存技术。然而,实现规模集成和实际应用仍然是一个挑战。
为此,研究人员开发了超界面工程技术,实现了大规模二维闪存中具有原子级平整度的异质界面。结合高精度的表征技术,综合技术优于国际水平。
研究人员通过严格的DC存储窗口和交流脉冲存储性能测试,确认二维新机制闪存在1KB存储规模中,纳秒级非易失编程速度下的良率可达98%,高于国际半导体技术路线图对闪存制造89.5%的良率要求。
此外,研究小组开发了自对准技术,不依赖先进的光刻设备,结合原创新的超快存储叠层电场设计理论,成功实现了8纳米的超快闪存器件,是最短的沟闪存器件,突破了硅基闪存物理尺寸极限(约15纳米)。
在原子级薄层沟的支持下,该超小尺寸设备具有20纳秒超快编程、10年非易损、10万次循环寿命和多态存储性能。预计将推动超快颠覆性闪存技术的产业化。
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